DIN V VDE V 0126-18-2-2-2007 太阳能硅片.第2-2部分:硅片几何尺寸的测量.厚度的变化
作者:标准资料网
时间:2024-05-24 23:40:06
浏览:9359
来源:标准资料网
下载地址: 点击此处下载
【英文标准名称】:Solarwafers-Part2-2:Measuringthegeometricdimensionsofsiliconwafers-Variationsinthickness
【原文标准名称】:太阳能硅片.第2-2部分:硅片几何尺寸的测量.厚度的变化
【标准号】:DINVVDEV0126-18-2-2-2007
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:2007-06
【实施或试行日期】:2007-06-01
【发布单位】:德国标准化学会(DE-DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:触点;结晶体;定义;尺寸偏差;圆盘;电气工程;测量;测量仪器;测量技术;非接触型;光电器件;半导体材料;半导体工艺;硅;硅片;太阳能电池;太阳能工艺;厚度;厚度偏差;变化
【英文主题词】:Contact;Crystalline;Definitions;Dimensionaldeviations;Disks;Electricalengineering;Measurement;Measuringinstruments;Measuringtechniques;Non-contacting;Photovoltaics;Semiconductormaterials;Semiconductortechnology;Silicon;Siliconslices;Solarcells;Solartechnics;Thickness;Thicknessdeviation;Variations;Wafers
【摘要】:
【中国标准分类号】:F12
【国际标准分类号】:27_160
【页数】:8P.;A4
【正文语种】:德语
【原文标准名称】:太阳能硅片.第2-2部分:硅片几何尺寸的测量.厚度的变化
【标准号】:DINVVDEV0126-18-2-2-2007
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:2007-06
【实施或试行日期】:2007-06-01
【发布单位】:德国标准化学会(DE-DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:触点;结晶体;定义;尺寸偏差;圆盘;电气工程;测量;测量仪器;测量技术;非接触型;光电器件;半导体材料;半导体工艺;硅;硅片;太阳能电池;太阳能工艺;厚度;厚度偏差;变化
【英文主题词】:Contact;Crystalline;Definitions;Dimensionaldeviations;Disks;Electricalengineering;Measurement;Measuringinstruments;Measuringtechniques;Non-contacting;Photovoltaics;Semiconductormaterials;Semiconductortechnology;Silicon;Siliconslices;Solarcells;Solartechnics;Thickness;Thicknessdeviation;Variations;Wafers
【摘要】:
【中国标准分类号】:F12
【国际标准分类号】:27_160
【页数】:8P.;A4
【正文语种】:德语
下载地址:
点击此处下载