ASTM F769-2000 晶体管及二极管泄漏电流测量的标准试验方法
作者:标准资料网
时间:2024-04-30 16:12:08
浏览:9476
来源:标准资料网
下载地址: 点击此处下载
【英文标准名称】:StandardTestMethodforMeasuringTransistorandDiodeLeakageCurrents
【原文标准名称】:晶体管及二极管泄漏电流测量的标准试验方法
【标准号】:ASTMF769-2000
【标准状态】:作废
【国别】:
【发布日期】:2000
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(US-ASTM)
【起草单位】:F01.11
【标准类型】:(TestMethod)
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:diode;junctionleakage;leakagecurrent;radiationtesting;totalradiationdose;transistor
【摘要】:1.1Thistestmethodcoversthemeasurementofleakagecurrentsoftransistorsanddiodes.Electronicdevicesexposedtoionizingradiationmayshowincreasesinleakagecurrentastheaccumlatedtotaldoserises.1.2Theseproceduresareintend
【中国标准分类号】:L41
【国际标准分类号】:31_080_10;31_080_30
【页数】:3P.;A4
【正文语种】:
【原文标准名称】:晶体管及二极管泄漏电流测量的标准试验方法
【标准号】:ASTMF769-2000
【标准状态】:作废
【国别】:
【发布日期】:2000
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(US-ASTM)
【起草单位】:F01.11
【标准类型】:(TestMethod)
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:diode;junctionleakage;leakagecurrent;radiationtesting;totalradiationdose;transistor
【摘要】:1.1Thistestmethodcoversthemeasurementofleakagecurrentsoftransistorsanddiodes.Electronicdevicesexposedtoionizingradiationmayshowincreasesinleakagecurrentastheaccumlatedtotaldoserises.1.2Theseproceduresareintend
【中国标准分类号】:L41
【国际标准分类号】:31_080_10;31_080_30
【页数】:3P.;A4
【正文语种】:
下载地址:
点击此处下载